Literaturtipps
Amazon-Bookstore
Marktplatz
aktuelle Angebote/Anfragen
Termine
Messe, Kongreße, Seminare
Produkte
aktuelle Produktinformationen
Unternehmen
über 56.000 Firmenprofile
Fachbeiträge
detailierte Fachinformationen
News
aktuelle Meldungen

SENTECH Seminar „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015“

03.08.2015 - 16:10 | 1245899


SENTECH organisierte am 18. Juni 2015 in Stuttgart ein eintägiges Seminar zum Thema „Ellipsometer und Reflektometer zur Charakterisierung dünner Schichten.” Der Fokus des Seminars lag vor allem auf Innovationen der SENTECH Metrologie Produkte. Neben den SENTECH Experten waren auch Gastredner aus verschiedenen Forschungseinrichtungen geladen. Themen wie z.B. Insitu Prozesskontrollen, Nanotechnologie als auch Innovationen aus dem Bereich der Photovoltaik wurden präsentiert.

Unter den Gastrednern befanden sich Vertreter von Universitäten sowie unterschiedlicher Unternehmen. Ein Highlight des Seminars war die Präsentation von Brecht Vallaey (Universität Leuven) zum Thema ”Insitsu Messungen mit Ellipsometrie imGasumfeld”.
Besonders interessant waren die Vorträge über die optische Charakterisierung von nanostrukturierten Oberflächen von Bernd Bodermann von der PTB und Ingo Dirnstorfer von NaMLab.

Dr Kärkkänen, SENTECH ALD Spezialistin, stellte den neuen SENTECH ALD Real Time Monitor vor. Die effiziente Optimierungsmöglichkeit von ALD Prozessparametern durch die Nutzung des ALD Real Time Monitors überzeugte das Fachpublikum.

Nach dem Seminar versammelten sich Publikum und Redner, um sich über die praktische Anwendung der vorgestellten Techniken auszutauschen.
Die Funktionsweise des SE 800 PV, einem neuen spektroskopisches Ellipsometer für die Photovoltaik-Forschung, wurde an einem ausgestellten Modell demonstriert.

Die Veranstaltung stellte eine ausgezeichnete Gelegenheit für alle Teilnehmer dar, ihre praktischen Erfahrungen zu teilen und sich zu vernetzen.
Wolfgang Wagenseil, Sales Manager bei SENTECH, organisierte diese Veranstaltung.
Er war begeistert von dem hervorragenden Feedback der Gäste: "Die Teilnehmer konnten etwas über die Anwendungsbereiche und Materialien für SENTECH Ellipsometer und Reflektometer lernen. Die im Anschluss stattfindende Diskussion über die Vorträge wird allen sicher geholfen haben, das erlangte Wissen in Zukunft auch praktisch anwenden zu können. „Wenn Sie mehr über die kommenden SENTECH Seminare wissen möchten, kontaktieren Sie uns hier!


Unternehmensinformation / Kurzprofil:

SENTECH Instruments entwickelt, produziert und verkauft hochqualitative Geräte für die Plasmaprozesstechnologie, die Dünnschichtmesstechnik und die Photovoltaik.


Leseranfragen:

PresseKontakt / Agentur:

Anmerkungen:

1245899

Kontakt-Informationen:
Firma: SENTECH Instruments GmbH

Ansprechpartner: Pia Romanowski
Stadt: Berlin
Telefon: 49 30 63 92 55 20

_CSF_KEYWORDS:

ellipsometer, ellipsometrie, spektroskopische-ellipsometrie, spektroskopische-ellipsometer, spektroskopisches-ellipsometer, duennschichtmesstechnik, messtechnik, optische-messtechnik, duenne-schichten, messung-duenne-schichten, metrologie, seminar-metrologie,



Diese Meldung wurde bisher 1614 mal aufgerufen.

Verlinkung-Tipps:



Direkter Link zu dieser Meldung:




Diese Pressemeldung bookmarken bei...


Tausendreporter BlinkList del.icio.us Folkd Furl Google Linkarena Mister Wong oneview Yahoo MyWeb YiGG Webnews Technorati

Über einen Link auf Ihrer News-, Presse- oder Partner-Seite würden wir uns sehr freuen.


Hiermit versichere ich, dass die von mir eingestellte HerstellerNews der Wahrheit entspricht. Sie ist frei von Rechten Dritter und steht zur Veröffentlichung bereit. Die Haftung für eventuelle Folgen übernimmt der Eintrager


[ Anfrage per Mail | Fehlerhafte HerstellerNews melden | Druckbare Version | Diese HerstellerNews an einen Freund senden ]

SENTECH Seminar „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015“
Silberinseln abgeschieden mit Atomic Layer Deposition
SENTECH auf der ALD China 2014
Spektroskopisches Ellipsometer zur Messung aller 16 Müller Matrix Elemente

Alle Meldungen von SENTECH Instruments GmbH RSS Feed

1,2 mm klein: Ultra-Miniaturdruckaufnehmer für Aerodynamik
Tektronix und das kürzlich übernommene Unternehmen EA Elektro-Automatik bieten jetzt ein erweitertes Leistungsportfolio für Ingenieure, die unsere Welt elektrisieren
Althen und M&L Smarter Solutions gründen Partnerschaft für IIoT-Lösungen
Funkbasierte IIoT-Zustandsüberwachung durch Vibrationsmessung
Die Neuen Laser Partikelzähler für die Reinraumzertifizierung und Prozessüberwachung ? AeroTrak® Plus Modellreihe A100 von TSI





Nach Kategorien:
  • Antriebstechnik
  • Apparate und Behälterbau
  • Automatisierungstechnik
  • Automobilindustrie
  • Chemische Industrie
  • Elektro- und Elektronik
  • Energie & Umwelt
  • Forschung und Entwicklung
  • Glas & Keramik & Stein
  • Handwerk
  • Industrietechnik
  • Kunststoffverarbeitung
  • Kälte- und Klimatechnik
  • Information / Telekommunikation
  • IT, New Media & Software
  • Maschinenbau
  • Montage & Handhabung
  • Montanindustrie
  • Nahrungs- und Genussmittel
  • Oberflächentechnik
  • Verarbeitendes Gewerbe
  • Verpackungsindustrie
  • Vermischtes
  • Werkzeuge

  • [ weitere HerstellerNews ][ RSS-Feed ]





    AutomatisierungsTreff ist ein Angebot der LayerMedia, Inc. Mehr Infos zum Unternehmen finden Sie hier.
    Wenn Sie an Werbung auf IndustrieTreff interessiert sind, so folgen Sie diesem Link
    © 2003 - 20115 LayerMedia, Inc. und deren Content-Lieferanten. Alle Rechte vorbehalten.